一、電路芯片高低溫老化箱性能：

指氣冷式在室溫20℃，空載時(shí)

規格型號：HE-WS-80/100/150/225/408/800/1000（A、B、C、D、E）

容量：

80升內箱尺寸（寬*高*深）：400X500X400mm

150升內箱尺寸（寬*高*深）：500X600X500mm

225升內箱尺寸（寬*高*深）：600X750X500mm

408升內箱尺寸（寬*高*深）：600X850X800mm

800升內箱尺寸（寬*高*深）：1000X1000X800mm

1000升內箱尺寸（寬*高*深）：1000X1000X1000mm

溫度范圍：

A表示：0℃～+150℃，B表示：-20℃～+150℃，C表示：-40℃～+150℃，

D表示：-60℃～+150℃，E表示：-70℃～+150℃

溫度精度：±0.01℃

溫度波動(dòng)度：±0.5℃

溫度均勻度：±2.0℃

濕度范圍：20%RH～98%RH

濕度精度：±0.1%R.H

濕度波動(dòng)度：±2.0%R.H.

濕度均勻度：±3%R.H.

升溫速率：平均3℃/min（非線(xiàn)性、空載時(shí)；從常溫+25℃升至+85℃約20min）；可按要求定制非標規格

降溫速度：平均1℃/min（非線(xiàn)性、空載時(shí)；從常溫+25℃降至-40℃約65min）；可按要求定制非標規格

二、電路芯片高低溫老化箱特點(diǎn)：

1.具有極寬的溫度控制范圍從-70到+150℃溫區選用，可滿(mǎn)足用戶(hù)的各種需要。

2.采用*的平衡調溫方式，可調節理想的溫度環(huán)境，具有穩定平衡式加熱能力，可進(jìn)行高精度、高穩定的溫度控制。

3.溫度控制采用進(jìn)口程序控制型儀表。

4.本試驗箱具有隨溫度的設定數值自動(dòng)選擇運轉制冷回路的機能，操作簡(jiǎn)單。

5.試驗箱內溫度設定采用鍵盤(pán)設定器，使設定簡(jiǎn)單易行，儀表具有偏差修正功能，經(jīng)過(guò)調整可獲得更為準確的試驗條件。

6.試驗箱大門(mén)裝有帶燈觀(guān)察窗，可方便地觀(guān)察試樣品的試驗狀態(tài)。

7.具有高溫開(kāi)機功能，能在箱內溫度130℃時(shí)開(kāi)啟冷機快速降溫，用戶(hù)可方便連續地進(jìn)行高溫、低溫循環(huán)試驗。

8.制冷系統中采用冷卻的冷凝方式，使用進(jìn)口全封閉壓縮機。